YS/T 666-2008

Active

工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Standard Type
YS
ICS
N/A
CCS
N/A
Status
Active
Issue Date
2008-03-12
Implementation
2008-09-01
Centralized Committee
国家发展和改革委员会
Issuing Authority
国家发展和改革委员会