Home / Standards / YS/T 27-1992 YS/T 27-1992 Active 晶片表面微粒沾污测量和计数的方法 Standard Type YS ICS N/A CCS N/A Status Active Issue Date 1992-03-09 Implementation 1993-01-01 Centralized Committee 中国有色金属工业总公司 Issuing Authority 中国有色金属工业总公司