YS/T 1160-2016

Active

工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

Standard Type
YS
ICS
N/A
CCS
N/A
Status
Active
Issue Date
2016-07-11
Implementation
2017-01-01
Centralized Committee
工业和信息化部
Issuing Authority
工业和信息化部