Home / Standards / SJ/T 2658.8-2015 SJ/T 2658.8-2015 Active 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度 Standard Type SJ ICS N/A CCS N/A Status Active Issue Date 2015-10-10 Implementation 2016-04-01 Centralized Committee 工业和信息化部 Issuing Authority 工业和信息化部