Home / Standards / SJ/T 11471-2014 SJ/T 11471-2014 Active 发光二极管外延片测试方法 Standard Type SJ ICS N/A CCS N/A Status Active Issue Date 2014-10-14 Implementation 2015-04-01 Centralized Committee 工业和信息化部 Issuing Authority 工业和信息化部