GB/Z 117.101-2026

Active

Photovoltaic modules—Test methods for the detection of potential-induced degradation—Part 1-1: Crystalline silicon—Delamination

光伏组件 电势诱导衰减测试方法 第1-1部分：晶体硅组件 分层

Standard Type
GBZ
ICS
27.160
CCS
K83
Status
现行
Issue Date
2026-01-04
Implementation
N/A
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A