GB/Z 119-2026

Active

C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测

Standard Type
GBZ
ICS
27.160
CCS
K83
Status
现行
Issue Date
2026-01-04
Implementation
N/A
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A