GB/T 5095.2503-2021
ActiveElectromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减
电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减