GB/T 4937.41-2026

Upcoming

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41：Test method for reliability of non-volatile memory devices

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
即将实施
Issue Date
2026-02-27
Implementation
2026-09-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A