GB/T 4937.40-2025

Upcoming

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 40: Board level drop test method using a strain gauge

半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
即将实施
Issue Date
2025-12-31
Implementation
2026-07-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A