Home / Standards / GB/T 4937.4-2012 GB/T 4937.4-2012 Active Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 现行 Issue Date 2012-11-05 Implementation 2013-02-15 Responsible Dept 工业和信息化部（电子） Drafting Unit N/A