GB/T 4937.38-2025

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Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
即将实施
Issue Date
2025-12-02
Implementation
2026-07-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A