GB/T 4937.35-2024

Active

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components

半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
现行
Issue Date
2024-03-15
Implementation
2024-07-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A