Home / Standards / GB/T 4937.31-2023 GB/T 4937.31-2023 Active Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices（internally induced） 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的） Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 现行 Issue Date 2023-05-23 Implementation 2023-12-01 Responsible Dept 工业和信息化部（电子） Drafting Unit N/A