GB/T 4937.30-2018
ActiveSemiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理