Home / Standards / GB/T 4937.3-2012 GB/T 4937.3-2012 Active Semiconductor devices - Mechanical and climatic tests methods - Part 3: External visual examination 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检 Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 现行 Issue Date 2012-11-05 Implementation 2013-02-15 Responsible Dept 工业和信息化部（电子） Drafting Unit 工业和信息化部（电子）