GB/T 4937.29-2025

Upcoming

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test

半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
即将实施
Issue Date
2025-12-02
Implementation
2026-07-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A