Home / Standards / GB/T 4937.25-2025 GB/T 4937.25-2025 Upcoming Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 25: Temperature cycling 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环 Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 即将实施 Issue Date 2025-12-02 Implementation 2026-07-01 Responsible Dept 工业和信息化部(电子) Drafting Unit N/A