GB/T 4937.23-2023

Active

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life

半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
现行
Issue Date
2023-05-23
Implementation
2023-12-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A