GB/T 4937.18-2018

Active

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)

半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐射(总剂量)

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
现行
Issue Date
2018-09-17
Implementation
2019-01-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A