Home / Standards / GB/T 4937.16-2025 GB/T 4937.16-2025 Active Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16: Particle impact noise detection(PIND) 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND) Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 现行 Issue Date 2025-10-31 Implementation 2026-05-01 Responsible Dept 工业和信息化部(电子) Drafting Unit N/A