Home / Standards / GB/T 4937.1-2006 GB/T 4937.1-2006 Active Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则 Standard Type GBT ICS 31.080.01 CCS L40 Status 现行 Issue Date 2006-08-23 Implementation 2007-02-01 Responsible Dept 工业和信息化部（电子） Drafting Unit N/A