GB/T 46789-2025

Upcoming

Semiconductor devices—Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)

半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
即将实施
Issue Date
2025-12-02
Implementation
2026-07-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A