GB/T 45721.1-2025

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Semiconductor devices—Stress migration test—Part 1: Copper stress migration test

半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
现行
Issue Date
2025-05-30
Implementation
2025-09-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A