GB/T 45719-2025

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Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors

半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验

Standard Type
GBT
ICS
31.080.01
CCS
L40
Status
现行
Issue Date
2025-05-30
Implementation
2025-09-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A