GB/T 36477-2018

Active

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

半导体集成电路 快闪存储器测试方法

Standard Type
GBT
ICS
31.200
CCS
L56
Status
现行
Issue Date
2018-06-07
Implementation
2019-01-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A