GB/T 36474-2018

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Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)

半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法

Standard Type
GBT
ICS
31.200
CCS
L56
Status
现行
Issue Date
2018-06-07
Implementation
2019-01-01
Responsible Dept
工业和信息化部（电子）
Drafting Unit
N/A