GB/T 27760-2011

Active

Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法

Standard Type
GBT
ICS
19.020
CCS
N04
Status
现行
Issue Date
2011-12-30
Implementation
2012-05-01
Responsible Dept
中国科学院
Drafting Unit
中国科学院