GB/T 19501-2004
General Rules for Electron Backscatter Diffraction Analysis
电子背散射衍射分析方法通则
📋 Scope / 适用范围 ai_extracted
本标准规定了电子背散射衍射分析方法。 本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的电子束显微分析仪进行物相的鉴定、晶体取向、显微织 构以及晶界特性等方面的分析。
📚 References & Relations / 引用与关联
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GB/T 15074
normative_reference
GB/T 15481
normative_reference
GB/T 15481-2000
normative_reference
IEC 17025
📖 Terms & Definitions / 术语和定义 ai_extracted
- 电子背散射衍射谱(花样)el
- ectron backscatter diffraction pattern (EBSP) 在电子背散射衍射中产生的线状花样,称之为电子背散射衍射菊池线。每一线对即菊池线对,对应 晶体中的一组晶面,所有不同晶面产生的背散射衍射菊池线组成的图形称为电子背散射衍射谱(花样)。
- 晶体取向
- crystallographi c orientations 晶体点阵相对于试样外部坐标轴的位向关系,及取向分布。
- 晶粒夹角misorientation
- 晶界面两侧位向差(相邻两晶粒间夹角0)可用晶粒绕某一晶向轴相对另一晶粒旋转0角来表示。 分为小角度晶界叨镇150)和大角度晶界(0>150) o
- 重位点阵
- coincidence site lattice (CSL) 两个互相穿插的平移点阵(点阵1和点阵2)相对作平移、旋转等操作,当到达某一位置时(如旋转 到某些特殊角度时)。这两部分点阵中的一些阵点会重合起来(即点阵2中的某一阵点与点阵1中的某 一阵点重合),这些重合的阵点称为点阵重合位置。这些重合位置的阵点本身将构成三维空间格子的超 点阵,称为重合位置点阵,简称重位点阵“Lattice Coincidence Site" (CSL),经常用艺值来表示重位点阵 的特点,它是CSL单胞的体积与晶体点阵单胞体积之比: 。 CSL单胞体积 乏=石应奋书弓升鉴笼望三全二二 “一晶体点阵单胞体积 GB/T 19501-2004
- 晶体取向分布图crystal
- orientation map (COM) 当电子束或样品台进行逐点扫描,可获得有关晶体取向的空间分布的大量信息,将试样中各点不同 晶体学取向进行分类,取其中某一些取向作为参考颜色(或灰度),其他各点与参考取向若有不同,则取 不同颜色(或灰度),可得到一种晶体学取向图。
- 相鉴定
- phases identificati on 利用EBSD技术对晶体点阵进行分析,根据它们的晶体学特征信息进行相表征,确定相的种类。
- Hough 变换
- XY空间中的一条直线转换成Hough空间的正弦曲线,两个空间的坐标变换关系为:Xcosq -E - Ysinq= r,:是} XY空间中一直线离原点的距离,q是表示该直线与X轴的夹角。这样在Hough空间的 一个点相应于XY空间的一条特定的直线。经Hough空间变换使得在XY空间难以解决的线对测量 问题转化为比较容易的Hough空间的峰位测量。采用这一空间变换的另一优点是,只要对EBSP图作 一点预处理,就能极大地改善漫散的菊池线测量的精度。
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