GB/T 19403.1-2003

Active

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)

半导体器件集成电路第11部分:第1篇:半导体集成电路内部目检 (不包括混合电路)

Standard Type

GBT

ICS

31.200

CCS

L56

Status

现行

Issue Date

2003-11-24

Implementation

2004-08-01

Responsible Dept

工业和信息化部（电子）

Drafting Unit

工业和信息化部（电子）