GB/T 17554.1-2006

📋 Scope / 适用范围 ai_extracted

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📝 Foreword / 前言 ai_extracted

GB/T 17554《识别卡 测试方法》拟分为7个部分: — 第1部分:一般特性测试 — 第2部分:磁条卡 — 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备 — 第4部分:无触点集成电路卡 — 第5部分:光记忆卡 — 第6部分:接近式卡 — 第7部分:邻近式卡 本部分为GB/T 17554的第I部分，修改采用国际标准ISO/IEC 10373-1:1998《识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试》(英文版)。 本部分与ISO/IEC 10373-1:1998相比，存在如下少量技术性差异: — 根据新版识别卡物理特性标准，本部分增加了5.16“抗热度测试方法”。 本部分与GB/T 17554-1998相比主要变化如下: a) 增加了5.16“抗热度测试方法”; 6) 删除了第6章“带触点的集成电路卡”。 本部分由中华人民共和国信息产业部提出。 本部分由中国电子技术标准化研究所归口。 本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。 本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩 本部分从实施之日起，同时替代GB/T 17554-1998( (识别卡 测试方法》。 GB/T 17554.1- 2006 识别卡 测试方法 第1部分:一般特性测试 范围 本标准规定了符合GB/T 14916-2006所定义的识别卡特性的一些测试方法。每一测试方法交叉 引用一个或多个基础标准，这些基础标准可以是GB/T 14916，也可以是一个或多个定义了应用在识别 卡应用的信息存储技术的补充标准。 注1:接收标准不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中。 注2:本部分描述的若干测试方法预期可单独进行。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。 本部分定义了为一种或多种卡技术所共用的测试方法。GB/T 17554的其他部分定义了专有技术 的测试方法。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文 件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本 部分。 GB/T 131-1993 机械制图表面粗糙度符号、代号及其注法(eqv ISO 1302;1992) GB/T 1690-1992 硫化橡胶耐液体实验方法(neq ISO 1817;1985) GB/T 3922-1995 纺织品 耐汗渍色牢度实验方法(eqv ISO105/E04:1994) GB/T 11500-1989 摄影透射密度测量的几何条件(neq ISO 5-2;1985) GB/T 14916-2006 识别卡 物理特性(ISO/IEC 7810:2003,IDT) GB/T 17552-1998 识别卡 金融交易卡(i dt ISO/IEC 7813:1995) GB/T 16649. 1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性(ISO/IEC 7816-1; 1998, MOD) GB/T 10125-1997 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验(eqv ISO 9227:1990) GB/T 17553.1-1998 识别卡 无触点集成电路卡 第1部分:物理特性(idt ISO/IEC 10536-1: 1992) GB/T 17550. 3-1998 识别卡 光记忆卡 线性记录方法 第3部分:光属性和特性(idt ISO/ IEC 11694-3;1995) ISO/IEC 7811-1:1995 识别卡 记录技术 第1部分:凸印 ISO/IEC 7811-2;1995 识别卡 记录技术 第2部分:磁条 ISO/IEC 7811-6:1996 识别卡 记录技术 第6部分:高矫顽力磁条 术语和定义 下列术语和定义适用于本部分: 测试方法 test method 为了证实识别卡符合若干标准而对其特性进行测试的方法。 GB/T 17554. 1- 2006 可测试功能testably functional 经受了某些可能的破坏性作用后，仍有以下功能: a) 卡上的任何磁条示出了根据基本标准进行暴露前后信号幅度间的关系; b) 卡上的任何集成电路仍然给出了符合基本标准的复位应答响应1 ) c) 与卡上的任何集成电

📚 References & Relations / 引用与关联