GB/T 14849.5-2014

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Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Standard Type
GBT
ICS
77.120.10
CCS
H12
Status
现行
Issue Date
2014-12-05
Implementation
2015-05-01
Responsible Dept
中国有色金属工业协会
Drafting Unit
N/A