GB/T 14849.4-2014

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Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 4：Determination of impurity contents―Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Standard Type
GBT
ICS
77.120.10
CCS
H12
Status
现行
Issue Date
2014-12-05
Implementation
2015-08-01
Responsible Dept
中国有色金属工业协会
Drafting Unit
N/A