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半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量

Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations

半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分：稳态加速度

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 36:Acceleration，steady state

固定电阻器电流噪声测量方法

Method of measurement of current noise generated in fixed resistors

半导体器件 机械和气候试验方法 第33部分：加速耐湿 无偏置高压蒸煮

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 33: Accelerated moisture resistance—Unbiased autoclave

集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 9: Measurement of radiated immunity—Surface scan method

集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method

集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分：工作台法拉第笼法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 5: Workbench Faraday cage method

半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分：机械冲击 器件和组件

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 10: Mechanical shock—Device and subassembly

电子设备用固定电容器 第23-1部分：空白详细规范 表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment—Part 23-1: Blank detail specification—Fixed metallized polyethylene naphthalate film dielectric surface mount DC capacitors—Assessment level EZ

集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 6: Measurement of conducted emissions—Magnetic probe method

半导体器件 第14-4部分：半导体传感器 半导体加速度计

Semiconductor devices—Part 14-4:Semiconductor sensors—Semiconductor accelerometers

电气和电子设备用固定双电层电容器 第1部分：总规范

Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment—Part 1:Generic specification

半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分：采用加速度计的板级跌落试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 37: Board level drop test method using an accelerometer

车辆集成电路电磁兼容试验通用规范

EMC test generic specification of vehicle IC

集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 3: Measurement of radiated emissions—Surface scan method

集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 8: Measurement of radiated emissions—IC stripeline method

集成电路 电磁发射测量 第5部分：传导发射测量 工作台法拉第笼法

Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 5: Measurement of conducted emissions—Workbench Faraday Cage method

半导体器件 第19-1部分：智能传感器 智能传感器的控制方案

Semiconductor devices—Part 19-1: Smart sensors—Control scheme of smart sensors

电气和电子设备用固定双电层电容器 第2部分：分规范 功率型双电层电容器

Fixed electric double-layer capacitors for use in electric and electronic equipment—Part 2: Sectional specification—Electric double-layer capacitors for power application