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电子级五（二甲氨基）钽

Electronic grade pentakis（dimethylamide）tantalum

有机发光材料测试方法 第4部分：电学性能

Test methods for organic luminescence material—Part 4: Electrical properties

液晶配向膜测试方法 第3部分：光电性能

Test methods for liquid crystal alignment layers—Part 3:Optical and electrical properties

平板显示器偏光片测试方法 第3部分：可靠性

Test methods for polarizers of flat panel displays—Part 3：Reliability

平板显示器偏光片测试方法 第2部分：光学性能

Test methods for polarizers of flat panel displays—Part 2: Optical properties

有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第3部分：纯度

Test methods for organic luminescence electronic and hole function material—Part 3：Purity

有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能

Test methods for organic luminescence electronic and hole functional material—Part 2: Optical properties

有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能

Test methods for organic luminescence electronic and hole function material—Part 1：Thermal property

液晶配向膜测试方法 第2部分：成膜性能

Test methods for liquid crystal alignment layers—Part 2：Film properties

液晶配向膜测试方法 第1部分：理化性能

Test methods for liquid crystal alignment layers—Part 1：Physical and chemical properties

纤维光学波长开关 第1部分: 总规范

Fibre optic wavelength switches—Part 1：Generic specification

挠性多层印制板规范

Specification for flexible multilayer printed boards

闪烁晶体的中子-伽马射线探测性能测试方法

Test method for neutron-gamma ray detection performance of scintillation crystals

电子级四甲基硅烷

Electronic grade tetramethylsilane

半导体器件 金属化空洞应力试验

Semiconductor devices—Metallization stress void test

有机发光材料测试方法 第1部分：光学测试

Test methods for organic luminescence material—Part 1: Optical tests

电子元器件 半导体器件长期贮存 第6部分：封装或涂覆元器件

Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 6: Package or finished devices

电子元器件 半导体器件长期贮存 第4部分：贮存

Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 4: Storage

半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16: Particle impact noise detection(PIND)

电光调制器用铌酸锂单晶薄膜

Lithium niobate single-crystal thin film for electro-optic modulator